首页
产品试用
活动报名
积分商城
进入官网
登录
注册
首页
搜索
全部板块
技术论坛
EDA软件
AI 赋能
电性测试方案
大数据分析方案
硅光设计
技术求助
搜索
怎样进行批量化创建Pcell?
内环境稳定
2024-05-19 15:06
84
2
参与讨论 ›
怎样在绕线时自动生成color layer?
pieces
2024-05-17 08:56
113
16
参与讨论 ›
floorplan版图拼接功能页面,Use Origin Location和At Origin区别是什么,AutoFloorPlan的By Fixed Pitch页面中Center Origin的意思是什么
董克平日记
2024-05-17 03:29
477
6
参与讨论 ›
online放完foup没有反应如何解决
五阳
2024-05-10 20:19
168
15
参与讨论 ›
EAP online测试,S2F49回复B02解决办法
李剑一
2024-05-10 13:07
155
14
参与讨论 ›
目前ATC 支持的IP 类型有哪些,不同IP 的应用场景是怎样的?
前端梦工厂
2024-05-10 08:36
236
18
参与讨论 ›
目前支持几种量测命令
囿人化雨
2024-05-02 00:38
328
16
参与讨论 ›
CMP Testchip设计的原则是什么?
神奇小汤圆
2024-04-23 08:18
152
5
参与讨论 ›
基于软件计算的预测良率和产线的实际良率对不上,问题可能出在哪里?
董克平日记
2024-04-22 03:01
283
15
参与讨论 ›
完成光子芯片版图后,如何判断版图是否满足工艺规则?
无法格式化
2024-04-16 05:49
305
10
参与讨论 ›
rule有五种测量方式,分别表示什么,怎么水平垂直量测
老沈1
2024-04-11 21:06
329
15
参与讨论 ›
PatternScan支持模糊匹配吗
神奇小汤圆
2024-04-11 11:05
391
5
参与讨论 ›
如何获取版图的cell,polygon信息,或者获取polygon的尺寸信息及其他统计信息
名贵的考拉熊
2024-04-03 07:46
304
5
参与讨论 ›
怎样实现3D绕线?
咸鱼凌大炮
2024-03-17 02:22
63
14
参与讨论 ›
check connection 选择多点label进行trace,怎么确定label没有连接到任何地方就断路
程序员飞鱼
2024-03-06 14:35
147
2
参与讨论 ›
在先进工艺中 testkey 与 pad 间距有对齐要求(例如需要把 mark layer 和 chip 对齐),软件需要怎样操作?
无法格式化
2024-02-27 22:29
418
13
参与讨论 ›
自动布线时,波导自动绕的很远,或者局部弯曲半径太小,怎么调整?
沉默王二
2024-02-26 20:02
177
9
参与讨论 ›
关键面积是怎么和良率建立起关系的?
胡七筒
2024-02-23 01:20
491
16
参与讨论 ›
check density功能的计算流程是什么,结果文件怎么理解
恋猫de小郭
2024-02-22 02:42
194
20
参与讨论 ›
CMP建模数据越多越好吗,一般设计多少个合适?
石小石Orz
2024-02-21 05:22
279
7
参与讨论 ›
«
1
2
3
4
5
6
7
»