当进行缺陷类型标注的时候,是只允许一个用户使用呢还是可以被多个用户同时使用进行标注?
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INF-AI ADC 可以提供多少个缺陷标签?是否是有限的,缺陷标签的数量是否会影晌分类的精度?
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试用时,大模型执行过程中调用工具会弹一个 "×",这是不是出错了?会影响最后结果吗?
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能让 SemiAgent 直接操作我的本地电脑或浏览器吗?比如帮我点开本地某个软件、操作浏览器下载数据。
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同一个问题我问三次, AI 给的结论会一样吗?我们做报告得保证可复现,每次不一样没法用
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我们部门100 多个工程师,每人习惯不一样,模型配置都不同,模型会记混吗?A 的设置会不会串到 B 那里?
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半导体专业知识怎么给到模型,是微调吗?
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工艺数据敏感,能私有化部署吗?
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用的是GPT/OpenAI等外网大模型还是自研模型?
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我们既有 DEG 里的芯片级测试数据(FT/CP/WAT),又有 YMS 里的良率数据,现在两边分析是分开做的。SemiAgent 能把它们关联起来一起分析吗?
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SemiAgent是怎么从 YMS 拉数据的?是实时同步吗?我们 IT 担心数据走公网。
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SemiAgent和YMS打通之后,每天能自动做哪些事?能不能举个实际例子,别讲概念。
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SemiAgent 和普通 AI 助手到底有什么本质区别?
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助力车规级等高可靠性芯片需求,广立微高性能晶圆级可靠性(WLR)测试机开始批量发货
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万物互联 DATAEXP助力坤锐电子解锁RFID芯片良率数据价值
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广立微丰富电性测试产品矩阵,推出T4000 Max 100pin多通道并行参数测试机
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广立微良率分析平台DE-YMS助力灵动微电子挖掘MCU车规级芯片良率数据价值
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AI赋能设计制造 | 广立微INF-AI助力格科微产品良率提升
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洞察数据价值 广立微DE-G 2.0打造更灵活快捷的通用分析软件
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广立微发布DE-YMS 2.0:全面提升半导体全流程数据管理与分析,助力行业应对技术挑战
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