我们既有 DEG 里的芯片级测试数据(FT/CP/WAT)，又有 YMS 里的良率数据，现在两边分析是分开做的。SemiAgent 能把它们关联起来一起分析吗?

神奇小汤圆 2026-08-10 浏览：1

SemiAgent和 DEG 系统打通，可以调 FT、CP、WAT 这些芯片级测试数据。提问时系统会自动把 DEG 里的测试结果和 YMS 里的良率数据关联起来做跨系统分析。比如定位某个良率异常，它能同时拉 DEG 里对应批次的测试明细一起看，不用你们两边各导一份再对批次号。SemiAgent在这块的主要价值，就是可以把本来散在两个系统里的数据接到一个分析流里。

跨系统关联数据机制

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神奇小汤圆

这个人很懒，什么都没写~

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