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我们既有 DEG 里的芯片级测试数据(FT/CP/WAT)，又有 YMS 里的良率数据，现在两边分析是分开做的。SemiAgent 能把它们关联起来一起分析吗?

2026-08-10 10:43 2 0

强强联合攻克多芯片合封良率挑战：广立微与矽睿科技共筑良率管理新标杆

2026-07-30 16:21 1 0

CMP Testchip设计的原则是什么？

2024-04-23 08:18 152 5

PatternScan支持模糊匹配吗

2024-04-11 11:05 392 5