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INF-AI ADC 可以提供多少个缺陷标签？是否是有限的，缺陷标签的数量是否会影晌分类的精度？

2026-08-10 11:33 2 0

SemiAgent 和普通 AI 助手到底有什么本质区别？

2026-08-10 10:37 2 0

智能诊断+AI 双核赋能广立微YAD贯穿全链路良率诊断分析

2026-07-30 16:38 1 0

DEG中怎么修改列的名字？

2026-07-22 11:50 15 0

在DE-G中绘制散点图时，有多个数据组用不同颜色表示，如何将某一组数据置于图层最上方，避免被其他组覆盖？

2026-07-22 11:28 4 0

在散点图中如何只修改单个图的显示或设置？

2026-07-22 11:24 4 0

完成光子芯片版图后，如何判断版图是否满足工艺规则?

2024-04-16 05:49 305 10

在先进工艺中 testkey 与 pad 间距有对齐要求（例如需要把 mark layer 和 chip 对齐），软件需要怎样操作？

2024-02-27 22:29 418 13