对话DE-G：解锁4个让你惊叹的实用小技巧

## 01 柱状图堆叠：一键实现多维度对比 你看，我想分析同一批次晶圆中不同Wafer的Defect分布情况。用现有工具得做好几个分开的图表，既占地方又不好对比。 DE-G的“柱状图堆叠”功能就是为这种场景设计的。你只需要选择要分析的维度，系统会自动把不同Wafer的Defect情况堆叠在一起展示。看，这样不仅能在同一张图上比较各Wafer的整体缺陷数量，还能清楚看到各类缺陷的占比。  确实清晰多了！这样我一眼就能看出哪个Wafer问题最严重，主要是什么类型的缺陷。 ## 02 智能标注：告别手动添加文本框 还有个问题，我想在图表上标注一些特殊点，比如超出预期的数据，现在只能一个个手动加文本框，特别耗时，还不美观。 试试DE-G的Labels和Tooltip功能。你可以在需要标注的数据点上直接添加说明文字，系统会自动标准。把鼠标悬停在数据点上时，还能显示更详细的信息，比如具体的测试条件、时间等。   这个太实用了！以后做报告时，重点数据一目了然。 ## 03 智能拟合：排除离群点拟合 你看这份测试数据，里面明显有些异常点。每次做拟合前，我都要花很多时间手动筛选，稍微不注意就会影响拟合效果。 DE-G的排除离群点拟合功能可以帮到你。你只需要在图表上选择可能的异常点，系统便可以排除它们进行拟合。你还可以自由选择要不要保留显示这些点在你的图表上，确保分析的准确性。  ## 04 自动规格线：智能匹配参数规格## 还有一个重复性工作很耗时：每次都要手动添加规格上下限。不同参数的标准还不一样，很容易出错。 DE-G可以自动添加Spec线。你只需要在系统里预设好各参数的规格范围，作图时就会自动显示对应的上下限。最方便的是，当你更新数据或者切换参数时，规格线会自动调整，再也不用手动修改了。  这些功能简直就是为我们量身定做的！操作起来都很直观，不需要特别复杂的设置。