首页
产品试用
活动报名
积分商城
进入官网
登录
注册
如何在制造版图之前评估整个光子电路的光学性能?
pieces
2023-12-20
浏览:156
分享
复制链接
1.为电路中的器件配置理论模型、仿真模型或测试数据模型。 2. 在电路层级组合各个器件模型,并设置波长扫描范围。 3.计算电路的S参数、透射率、损耗、相位和波长响应。 4. 根据仿真结果调整器件参数或电路结构,并重新验证。
Simulation
收藏
点赞
评论 17
登录/注册
pieces
这个人很懒,什么都没写~
10
文章
1148
浏览
0
粉丝
关注
写评论
热门帖子
洞察数据价值 广立微DE-G 2.0打造更灵活快捷的通用分析软件
囿人化雨
|
3515 阅读
·
0 评论
万物互联 DATAEXP助力坤锐电子解锁RFID芯片良率数据价值
Proofbylntuition
|
3206 阅读
·
0 评论
半导体可靠性分析-EM分析
码界
|
3205 阅读
·
0 评论
如何用DE-G利用长表/宽表结构玩转数据分析?
老沈1
|
2437 阅读
·
0 评论
广立微丰富电性测试产品矩阵,推出T4000 Max 100pin多通道并行参数测试机
内环境稳定
|
2314 阅读
·
0 评论
AI赋能设计制造 | 广立微INF-AI助力格科微产品良率提升
咸鱼凌大炮
|
2215 阅读
·
0 评论
相关推荐
同一个器件更新了多个版本,怎么避免项目引用错版本?
371
4
安装 IPKISS 后,Python 环境中无法正常导入相关模块,应该如何排查?
311
29
完成光子芯片版图后,如何判断版图是否满足工艺规则?
305
23
如何检查光子电路中的器件是否按照设计要求正确连接?
275
10
自动布线时,波导自动绕的很远,或者局部弯曲半径太小,怎么调整?
177
2
洞察数据价值 广立微DE-G 2.0打造更灵活快捷的通用分析软件
3515
1
评论 17