聚焦半导体测试与良率分析前沿技术,汇聚行业专家分享最新实践成果。
09:00-09:30 开幕致辞
09:30-10:30 半导体测试技术发展趋势
10:45-11:45 AI驱动的良率分析实践
14:00-15:00 DFT设计与测试协同优化
15:15-16:15 圆桌讨论:行业未来展望
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